In-circuit Test Probe - SERIES

In-circuit Test Probe series

item Specification
ICT39N Minimum spacing 1.00(.039) mm(inch)Maximum stroke 6.35(.250) mm (inch)Ampacity 2 A
ICT 39Q/QL/QXL  1.00(.039) mm(inch) 4.45(.175) mm(inch) 2 A
ICT 50N/Q  1.27(.050) mm(inch) 6.35(.250) mm(inch) 2~3 A
ICT 50NL/QL Minimum Centers 1.27(.050) mm(inch) 10.00-10.16(0.394-0.400) mm(inch) 2 A
ICT 50DS  1.27(.050) mm(inch) 6.35(.250) mm(inch) 2~3 A
ICT 75N/Q/NS  1.91(.075) mm(inch) 6.35(.250) mm(inch) 3~4 A
ICT 75NL/QL/XL  1.91(.075) mm(inch) 6.35(.250) mm(inch) 3~4 A
ICT 100N/NS  2.54(.100) mm(inch) 6.35(.250) mm(inch) 5~8 A
ICT 100Q  2.54(.100) mm(inch) 6.35(.250) mm(inch) 5~8 A
ICT 100NL  2.54(.100) mm(inch) 11.70(.461) mm(inch) 5~8 A
ICT 100QL  2.54(.100) mm(inch) 8.89(.350) / 10.16(.400) mm(inch) 5~8 A